Microscope à force atomique attoAFM III

de laboratoireà caméra numérique

L'attoAFM III est un microscope atomique de force conçu en particulier pour des applications à la basse et très réduite température. En raison de la détection non-optique de force de cisaillement basée sur un diapason, ce système approprié idéalement aux applications où l'entrée de la lumière est problématique. Une application typique du microscope de l'attoAFM III balaye la microscopie de porte (MBS) sur des structures de semi-conducteur. Ce microscope est compatible avec les astuces disponibles dans le commerce de diapason, et est disponible avec l'encodeur interférométrique facultatif pour le balayage de boucle bloquée. L'attoAFM III utilise un capteur de diapason comme mécanisme de détection pour les forces d'astuce-échantillon, permettant la représentation de haute résolution de mode de non contact sans besoin de toutes les techniques optiques de détection de débattement. Une astuce d'AFM est collée sur une fourche d'un petit diapason de quartz, qui est alors excité pour osciller dans la direction horizontale. La diminution de l'amplitude due à l'interaction d'astuce-échantillon quand l'approche de l'échantillon est surveillée et/ou employée comme signal de retour. La résolution de force de cette technique est en général 0,1 PN.