Microscope à balayage de sonde OS-AAAFMSTMnumérique
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Caractéristiques
- Type
- AFM, à balayage de sonde, STM, numérique
- Applications
- pour la recherche, multiusage
- Configuration
- de paillasse
- Résolution spatiale
0,1 nm, 0,13 nm, 0,26 nm
Description
Le système OS-AA SPM est connu pour sa multifonctionnalité et son ouverture. Il s'agit d'une plate-forme pour des expériences non conventionnelles et un développement plus poussé qu'une simple installation de détection. Il ne s'agit pas simplement d'un dispositif de détection. Il inclut également des fonctions telles que STM, AFM, LFM, MFM, EFM, et des techniques telles que le mode contact, le tapotement et l'imagerie de phase. Le système SPM dispose d'une installation d'imagerie avec contrôle numérique complet ADC/DAC 16 bits. Le système SPM dispose d'une communication à grande vitesse basée sur le protocole TCP/IP pour un double CPU-double-OS et un grand échange de données. Il est possible d'étendre davantage le canal du signal d'entrée/sortie. Il dispose d'une interface externe standard ouverte pour les seconds développements. Sa technologie multimédia est capable de nano-manipulation. Le système est conçu pour Windows Vista/XP/NT/2000/9X
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Atomic Force Microscope and Scanning Probe Microscope
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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.