Le logiciel se compose d'un programme principal qui fournit l'interface utilisateur, et la diverse entrée-sortie de machine fonctionne, ainsi qu'au moins deux bibliothèques (DLL) qui fournissent le traitement du spectre et les calculs de ZAF pour des spectres pris sur un SEM équipé d'un détecteur d'EDS.
Le logiciel fonctionne sur les PCs standard et les logiciels d'exploitation (Windows XP, 7, etc.). L'analyse complète de ZAF est possible, avec ou sans des normes, en utilisant une base de données interne des paramètres fondamentaux (point de gel) comme des coefficients d'absorption, des rendements de fluorescence, des probabilités de transition, etc. Il y a également un module d'affichage de spectre inclus.
Le logiciel inclut également l'acquisition des spectres à l'aide du matériel d'Amptek DPP. Les méthodes et les résultats fondamentaux que le dossier (un prétendu dossier d'EDX) peut être installé et réutilisé pour l'analyse de routine, ou les éléments peuvent être choisis pour chaque nouvelle analyse du spectre.
Le logiciel peut analyser des matériaux en vrac ou un matériel en couche mince à une seule couche. L'analyse peut être faite sans normes si les résultats peuvent être normalisés à 100%. En utilisant des normes, l'épaisseur peut également être déterminée ou les résultats ne doivent pas être normalisés.
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