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Logiciel de spectroscopie à fluorescence XRF-FP
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Caractéristiques
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- de spectroscopie à fluorescence
Description
XRF-FP est un logiciel d'analyse quantitative pour la fluorescence des rayons X (XRF). L'analyse XRF avec les paramètres fondamentaux (PF) convertit les intensités de pics élémentaires en concentrations élémentaires ou en épaisseurs de film. Il traite les spectres de rayons X bruts mesurés à l'aide de détecteurs Ampteks et de processeurs de signaux pour obtenir (1) les intensités des pics élémentaires (c'est-à-dire l'intensité des pics correspondant à chaque élément) et ensuite (2) les concentrations élémentaires ou épaisseurs de film.
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Catalogues
* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.