Le système de MultiPrep? permet la préparation semi-automatique précise témoin d'un éventail de matériaux pour (optique, SEM, EBSD, MENSONGE, TEM, AFM, etc.) l'évaluation microscopique. Les possibilités incluent le polissage parallèle, l'angle polissant, le polissage emplacement-spécifique ou n'importe quelle combinaison en. Il fournit des résultats reproductibles d'échantillon en éliminant des contradictions entre les utilisateurs, indépendamment de leur compétence.
Les micromètres duels (lancement et roulement) permettent des ajustements précis d'inclinaison d'échantillon relativement à l'avion abrasif. Un axe rigide de Z-indexation maintient l'orientation géométrique prédéfinie dans tout processus de meulage/de polissage.
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