L'ICP-MS Agilent 7800 a été remplacé par le nouvel instrument ICP-MS intelligent 7850. Le 7850 ICP-MS est configuré pour une installation rapide et une analyse rationalisée dans les applications ICP-MS typiques, ce qui vous fait gagner du temps et permet à votre laboratoire d'obtenir plus facilement d'excellents résultats
Caractéristiques
Accélérez vos analyses de routine des métaux - Le logiciel ICP-MS MassHunter comprend des méthodes prédéfinies qui peuvent être simplement chargées et exécutées avec des paramètres prédéfinis, des conditions de plasma au temps d'intégration de l'analyte et aux étalons internes. Pour les nouvelles méthodes, l'assistant de méthode construit la méthode en fonction du type d'échantillon et de l'application.
Réduire la préparation des échantillons - La technologie unique High Matrix Introduction (HMI), standard sur l'ICP-MS 7800, vous permet d'analyser des échantillons contenant jusqu'à 3 % de solides dissous totaux (TDS) sans dilution, ce qui réduit la préparation des échantillons et permet de gagner du temps.
Minimiser la suppression du signal - La technologie HMI réduit la suppression du signal, de sorte que les échantillons à matrice élevée peuvent être mesurés avec précision sans nécessiter de normes d'étalonnage adaptées à la matrice.
Garantir des données précises grâce à une élimination efficace des interférences - Le mode de collision à l'hélium (He) simplifie le développement des méthodes et les opérations de routine en éliminant les interférences des ions polyatomiques dans un ensemble unique et cohérent de conditions. Le mode He évite d'avoir recours à des conditions de cellule de réaction spécifiques à la matrice ou à l'analyte.
Analyse des analytes majeurs et des traces en un seul passage - Le système de détection orthogonal (ODS) à large plage dynamique permet l'analyse directe des éléments majeurs (des centaines ou des milliers de ppm) et des analytes à l'état de traces (simples ou sub-ppt) en un seul passage. La limite supérieure de concentration élevée réduit le nombre de réexécutions d'échantillons causées par des résultats trop élevés.
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