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Systèmes de mesure pour wafers
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... être mesuré en seulement 1 à 2 jours et pendant la nuit, alors que les méthodes d'essai convetionnelles nécessiteraient des semaines uniquement pour la préparation de l'essai. Mesure à façon, service ...
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... Le VX1100 convient aux mesures dimensionnelles précises dans les domaines suivants : machines, électronique, moules, moulage par injection, quincaillerie, caoutchouc, appareils électriques à basse tension, matériaux magnétiques, ...
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... La machine de mesure microscopique MX3200 permet d'effectuer des mesures à grande échelle de caractéristiques minuscules en combinant l'imagerie microscopique et la mesure ...
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... optique, les composants MEMS, etc. Application Mesure de l'offset de superposition Mesure des dimensions clés mesure des dimensions 3D Mesure de la profondeur de ...
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... Système de mesure vidéo automatique de la série G Mesure automatique par lots, pour vous libérer les mains La série G est idéale pour une grande variété d'applications d'inspection industrielle ...
Guangdong Jinuosh Technology Co.,Ltd
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... Série T MACHINE DE MESURE DU FLASH Inspection par une seule touche, mesure à large champ de vision (FOV) 0.résolution de 1 μm/lentille télecentrique Caractéristiques ✦Aucun positionnement ...
Guangdong Jinuosh Technology Co.,Ltd
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... l'axe Z : 200 mm - Caméra : 20MP noir et blanc - Résolution : 0,1 μm - Nombre maximum de positions mesurables à la fois : 500 - Nombre maximum de pièces mesurables en une fois - 200pcs Fonction - Test automatique : placer ...
Guangdong Jinuosh Technology Co.,Ltd
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... outil de mesure de bord de wafer et de profil d'encoche qui annonce une nouvelle ère de mesure extrêmement précise de la géométrie des wafers. La méthode de mesure ...
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... WATOM 150/200mm Mesure du bord de la plaquette - Technologie de projection fiable WATOM CCD utilise la technologie de projection de profil comme alternative à la technologie LS et fournit la solution idéale pour les ...
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... la même qualité, la même fiabilité de processus et la même précision de mesure que les autres systèmes WATOM. WATOM T est conçu pour accepter deux tailles de plaquettes pour une mesure ...
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... 3DGipsumB. Le système de mesure des dimensions des plaques de plâtre Solution clé en main basée sur des scanners laser 2D et des capteurs à triangulation de points pour la mesure ...
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... est conçu pour scanner et mesurer sans contact le diamètre intérieur des tuyaux. Paramètres mesurés : diamètre intérieur, ovalisation, circularité. Jauge portative de mesure du diamètre intérieur RF096-18/30-155/307-НН Plage de mesure ...
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... du processus, surveillance en ligne, contrôle du recouvrement de la lithographie PWG5™ avec option XT Des technologies supplémentaires étendent les capacités de manipulation et de mesure des plaquettes ...
KLA Corporation
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La série NEXIV-K est en mesure de réaliser des inspections 3D à grande vitesse et haute résolution. Système de mesure vidéo confocal multifonctionnel révolutionnaire Ce système ...
Nikon Metrology
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... à la déformation. Le système de métrologie de TZTEK permet d'éliminer ces interférences. Pour une largeur de structure inférieure à 0,7 μm, la lumière UV peut être appliquée. Épaisseur du film Le système ...
TZTEK Technology Co.,ltd
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... augmentent l'efficacité • Système XRF avec une excellente sensibilité de détecteur et une haute résolution • La reconnaissance automatique des formes identifie les positions à mesurer • Plusieurs modes ...
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... Z70 : Table de mesure de petite taille combinée à un zoom optique haute résolution La station de mesure MT-100-Z70 combine le système optique haute résolution et la technologie efficace ...
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... détectées rapidement et globalement. La mesure sans contact évite d'endommager la plaquette par la caractérisation magnétique traditionnelle et peut être appliquée à la détection d'échantillons avant et après le modelage. Wafer ...
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... diverses mesures de tailles. La commande numérique par ordinateur Vision Measuring System de multicapteur sont également employée couramment avec des multiples de plus petites pièces emboîtées dans ...
Leader Precision Instrument Co. Ltd
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... Le nouveau système de sonde avancé SUMMIT200 de Cascade est essentiel pour collecter des données de mesure de haute précision sur des tranches de silicium simples ou en volume, aussi rapidement que possible. Conçue ...
FORMFACTOR
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... enregistreur, d'un obturateur optique électromagnétique, d'un microcontrôleur, d'un clavier, d'un afficheur d'entrée, d'un afficheur de menu, d'un afficheur de données, d'un affichage ...
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... divers matériaux et conditions de polissage Grande précision de mesure Plage d'épaisseur : 0-1mm précision de mesure : ± 1 μ M précision de répétition : 0,2 μ m Temps de mesure court Temps ...
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