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... Le contact Celsius de Smiths Interconnect profite d'un trajet de signal légèrement plus long pour offrir des avantages significatifs en termes de conformité, de tenue en température et de capacité de charge. En tant que contact autonome, ...
Smiths Interconnect
... fiable et ne pas endommager le circuit imprimé. Caractéristiques et avantages Caractéristiques techniques : -Pour tester les LGA, QFN, QFP et autres variantes -L'action de frottement élimine les oxydes ...
Smiths Interconnect
... des résultats de test précis et cohérents pour toute une gamme d'appareils. Sa bande passante élevée et sa faible inductance la rendent électriquement invisible pour le système de test, ce qui évite d'endommager ...
Smiths Interconnect
... la rendent électriquement invisible pour le système de test, ce qui évite d'endommager les appareils testés et offre des avantages électriques et mécaniques inégalés. Levan élève les normes de test ...
Smiths Interconnect
... Prise de test et de déverminage Taille Peut également être utilisé comme prise de déverminage ●Sondes à broche M très fiables comme pièces de contact ●Haute fréquence Pour dispositif BGA, dispositif QFN 0.pas ...
JC CHERRY INC.
... Latch Lock pour ou QFP,SOP Produits standard La prise de test qui permet de mesurer le signal de transmission à grande vitesse en adoptant la méthode de contact qui presse directement le fil du dispositif contre la carte. Le ...
JC CHERRY INC.
... Prise de test Cadre GU29 / QFN pkg Taille 29x30.6mm / 1.14 "x1.20" Peut également être utilisé comme prise à brûler ●Haute fiabilité ●Compatibilité des coûts ●Température : Pour dispositif QFN Comment ...
JC CHERRY INC.
... Socle de test LPDDR type haute durabilité Pour BGA, LGA ou plus Dispositifs acceptés : MDDR, LPDDR2, LPDDR3, LPDDR4, LPDDR4X, LPDDR5 LPDDR (Low Power Double Data Rate) est l'une des normes de mémoire à faible consommation ...
JC CHERRY INC.
... utilisable jusqu'à 40 GHz (en fonction de l'utilisation) Comme les contacts sont intégrés sur toute la surface, la prise de test RF peut être utilisée pour une variété de dispositifs IC et même pour des emplacements de ...
JC CHERRY INC.
... Dans le processus de fabrication des semi-conducteurs, les tranches sont découpées en boîtiers tels que QFP, SOP, QFN et SON, et les prises IC sont essentielles pour l'inspection précise de ces puces emballées. Nous ...
... Contacteur de test personnalisé pour des tailles de pas ≥ 0,30 mm Couvercle facile à fermer Plage de température plus élevée disponible Force de contact (typique) : 15 g à 25 g Performances exceptionnelles Applications ...
Yamaichi Electronics
... Contacteur de test personnalisé avec un pas ≥ 0,25 mm Applications manuelles ou automatisées Force de contact (typique) entre 15 g et 35 g Performances exceptionnelles Compatible HF Solutions Kelvin et non Kelvin Pour ...
Yamaichi Electronics
... Les douilles d'essai à base non flottante sont courantes pour tester les QFN et autres dispositifs sans fil. Il s'agit d'une conception en deux parties qui maintient les broches à ressort ou les jeux ...
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