Probe cards

... Adaptable à une vaste gamme d'applications et de matériaux de sondage, c'est la solution verticale sur le marché depuis de nombreuses années et elle est particulièrement appréciée pour sa facilité de réparation unique. Pas minimum de ...

... Avec de multiples options d'extension de la durée de vie et diverses caractéristiques de sécurité pour la plaquette, la ViProbe®II porte tous les avantages de la ViProbe® à un niveau supérieur Pas minimum de l'objet sous test - 50 µm Diamètre ...

... Les sondes à lamelles offrent de nombreux avantages en termes de RF et de force. La faible longueur de la sonde et la flexibilité du nombre de lamelles en font la solution idéale pour les applications sophistiquées. Pas minimal de l'objet ...

... La mesure des wafers WLCSP, SiP ou flipchip nécessite des sondes capables de supporter des courants élevés tout en garantissant l'intégrité du signal. Le FeinProbe® de FEINMETALL répond à ces applications avec excellence. Pas minimum ...

... Les performances de pointe du produit HFTAP K32 rejoignent la série de cartes de sondes de test à haute fréquence de FormFactor, notamment les cartes K10, K16 et K22 utilisées pour tester les dispositifs DRAM à 1,0 GHz, 1,6 GHz et 2,2 ...

... Les dernières puces DRAM permettent une réponse extrêmement rapide et fluide des graphiques et de la mémoire cache dans les consoles de jeux et les ordinateurs personnels, ainsi que dans les applications de serveur. Elles permettent ...

... SmartMatrix™ 3000XP permet d'effectuer des tests par contact sur toute la tranche de 300 mm sur les DRAM mobiles et de commodité, la mémoire graphique (GDDR), la mémoire à large bande (HBM) et les dispositifs de mémoire émergents. Spécifiquement ...