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Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... à proximité de l'échantillon pour une analyse élémentaire à haute résolution en mode SEM et STEM. Caractéristiques du produit : - Combinaison SEM-STEM avec signal SEM filtré ExB et détection du signal ...
Résolution spatiale: 1 µm
Les systèmes de microscope MX63 et MX63L sont optimisés pour effectuer des inspections de grande qualité de wafers pouvant atteindre 300 mm, d'écrans plats, de cartes de circuits imprimés et d'autres ...
... dernière technologie LED et est entièrement intégré dans le microscope. Le faible rayonnement de chaleur et l'intégration dans le statif garantissent une circulation d'air optimale autour du microscope. ...
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... La SAM 300 AUTO WAFER est une ligne de produits développée pour le contrôle en ligne de la production de wafers collés. Il est compatible avec les salles blanches de classe 10. L'application principale ...
Résolution spatiale: 5 µm
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