Microscopes pour la topographie

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microscope SEM
microscope SEM
Phenom Pure G6

Grossissement: 160 unit - 175 000 unit
Résolution spatiale: 0 nm - 15 nm

... SEM de bureau économique et facile à utiliser, avec des fonctions d'automatisation fiables. Le microscope électronique à balayage (MEB) Thermo Scientific Phenom Pure est un outil idéal pour passer de ...

microscope SEM
microscope SEM
Phenom ParticleX TC

Grossissement: 160 unit - 200 000 unit
Résolution spatiale: 0 nm - 10 nm

... informations détaillées sur la surface de l'échantillon. Le SED peut être d'une grande utilité pour les applications où la topographie et la morphologie sont importantes. ...

microscope opto-numérique
microscope opto-numérique
DVM6

Microscope numérique pour l’analyse de défaillance, l’assurance et le contrôle qualité, la recherche et le développement ou encore la médecine légale. L'optique exceptionnelle, la manipulation intuitive et le logiciel ...

microscope électronique à balayage en transmission
microscope électronique à balayage en transmission
SU9000II

Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... La source d'émission en champ froid est idéale pour l'imagerie à haute résolution, avec une taille de source et une répartition d'énergie réduites. La technologie innovante du canon CFE contribue à l'ultime FE-SEM avec une luminosité ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU5000

Résolution spatiale: 1,2 nm

... experts du jour au lendemain. - La technologie de réglage automatique des axes (auto-calibration) permet de rétablir le microscope dans son "meilleur état" à la demande. - Une chambre à échantillons robuste "extractible" ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SU series

Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4, 3 nm

... Performance et puissance dans une plate-forme flexible Les microscopes électroniques à balayage SU3800/SU3900 d'Hitachi High-Tech sont à la fois opérationnels et évolutifs. L'opérateur peut automatiser de nombreuses opérations ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope AFM
microscope AFM
Nanite

... La morphologie de surface est une propriété importante pour de nombreuses surfaces de haute technologie présentant des caractéristiques aussi petites que quelques nanomètres et une rugosité de surface inférieure à un nanomètre. Le Nanite ...

microscope AFM
microscope AFM
CoreAFM

... contrôle de l'environnement, le contrôle du champ magnétique dans le plan et l'écriture de scripts. Le CoreAFM est plus qu'un microscope à force atomique tout-en-un, c'est une solution complète pour vos recherches et ...

microscope à force atomique
microscope à force atomique
LensAFM

... Le Nanosurf LensAFM est un microscope à force atomique qui intervient là où les microscopes optiques et les profilomètres atteignent leurs limites de résolution. Il est monté comme un objectif normal, ...

microscope optique
microscope optique
Eclipse LV100ND

Poids: 9,5 kg
Longueur: 657 mm
Largeur: 251 mm

... conception universelle du microscope permet de combiner des techniques de contraste optique complémentaires sur un même statif de microscope grâce à un système de composants modulaires. Nikon ECLIPSE ...

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Nikon Metrology
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
JSM-IT800 series

Grossissement: 10 unit - 5 480 000 unit
Résolution spatiale: 0,7 nm - 3 nm

... des champs scientifique de la biologie aux sciences durs des matériaux. Le microscope électronique à balayage JSM-IT800 utilise une plateforme facile d’utilisation, le SEM Center, cette plate-forme ...

microscope SEM
microscope SEM

... fournit une documentation de la surface d'un composant pour révéler les irrégularités. Microscope électronique à balayage (MEB) - Microphone - Outillage CNC Un microscope électronique à balayage (MEB) ...

microscope optique
microscope optique
CM EXPLORER

... production. Tâches de mesure caractéristiques • Mesure de rugosité selon • ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178 • Mesures de topographie (dont volume, usure, tribologie) • Contour et forme (2D, 3D) • Analyse de ...

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