Microscopes pour nanotechnologie

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microscope électronique à balayage en transmission
microscope électronique à balayage en transmission
SU9000 II

Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... à proximité de l'échantillon pour une analyse élémentaire à haute résolution en mode SEM et STEM. Caractéristiques du produit : - Combinaison SEM-STEM avec signal SEM filtré ExB et détection du signal ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU7000

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,8 nm

... Le SU7000 est idéal pour les échantillons lourds ou de grande taille et pour l'intégration d'une large gamme d'accessoires. Ces accessoires comprennent des détecteurs analytiques ou des accessoires de scène pour la manipulation in situ ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SU3800/3900 Family

Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4, 3 nm

... La famille SU3800/3900 VP-SEM est axée sur la productivité. Ces outils automatisent les tâches répétitives, ce qui vous permet d'obtenir des résultats reproductibles en peu de temps et avec peu d'efforts manuels. Deux chambres à échantillons ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
FlexSEM II

Grossissement: 6 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 4, 15 nm

... FlexSEM II est un MEB de table / compact pour les tâches d'imagerie qui dépassent les performances des MEB de table conventionnels. C'est le système idéal pour tous ceux qui ne veulent pas investir dans un MEB classique, mais qui ne veulent ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope SEM
microscope SEM
TM4000PlusIII

Grossissement: 10 unit - 250 000 unit

... Conçu comme une extension logique de la stéréomicroscopie optique, le TM4000 III est un appareil d'entrée de gamme pour la microscopie électronique à balayage. Il vous permet d'imager des échantillons en un temps record avec une bonne ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope STEM
microscope STEM
HF5000

Grossissement: 20 unit - 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,08, 0,1 nm

... Le HF5000 est un S/TEM corrigé en Cs qui peut être personnalisé pour des expériences in situ. La particularité est le détecteur Everhart Thornley SE, qui image la surface de l'échantillon à 60-200kV, comme dans un MEB. Ceci est particulièrement ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope métallographique
microscope métallographique
DS series

... lumineuses de BF, DF, DIC et POL pour les analyses multiples. Microscope inversé d'entrée de gamme pour les applications générales d'essai de dureté. Microscope inversé industriel et de science des matériaux ...

microscope AFM
microscope AFM
DriveAFM

... sur la taille du balayage ou le type d'installation. DriveAFM fonctionne aussi bien de manière autonome qu'intégré à un microscope optique inversé. Une gamme complète de modes d'imagerie, la possibilité d'utiliser de ...

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