Microscopes inspection de l'acier

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microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU3800SE/SU3900SE

Grossissement: 5 unit - 600 000 unit
Résolution spatiale: 2,5, 0,9 nm

... redimensionner, ce qui permet d'économiser du temps et des efforts. Il peut accueillir plusieurs échantillons pour des inspections automatisées. SU3800SE : prend en charge des échantillons plus petits, jusqu'à 200 mm ...

microscope SEM
microscope SEM
Phenom XL G2

Grossissement: 160 unit - 200 000 unit
Résolution spatiale: 0 µm - 10 µm

... Applications du microscope électronique à balayage de bureau Phenom XL G2 Le microscope électronique à balayage (MEB) de bureau Thermo Scientific Phenom XL G2 de nouvelle génération automatise votre processus ...

microscope inspection de l'acier
microscope inspection de l'acier

Grossissement: 160 unit - 200 000 unit
Résolution spatiale: 0 nm - 10 000 nm

... Scientific Phenom ParticleX Steel Desktop SEM est un MEB polyvalent permettant l'analyse des défaillances et la caractérisation automatisée des inclusions non métalliques dans l'acier. Analyse ...

microscope AFM
microscope AFM
Nanite

... La morphologie de surface est une propriété importante pour de nombreuses surfaces de haute technologie présentant des caractéristiques aussi petites que quelques nanomètres et une rugosité de surface inférieure à un nanomètre. Le Nanite ...

microscope métallographique
microscope métallographique
DS series

... lumineuses de BF, DF, DIC et POL pour les analyses multiples. Microscope inversé d'entrée de gamme pour les applications générales d'essai de dureté. Microscope inversé industriel et de science des matériaux ...

microscope métallurgique
microscope métallurgique
ECLIPSE MA200

Grossissement: 1 unit - 100 unit
Poids: 26 kg
Longueur: 295 mm

... du microscope permet de combiner des techniques de contraste optique complémentaires sur un même statif de microscope grâce à un système de composants modulaires. Nikon ECLIPSE MA200 Microscope ...

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