Microscopes pour l'industrie électronique

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microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
Verios 5 XHR

Résolution spatiale: 0,7, 1, 0,6 nm

... Caractérisation par microscopie électronique à balayage de nanomatériaux avec une résolution inférieure au nanomètre et un contraste élevé entre les matériaux. Microscope électronique ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
Quattro ESEM

Résolution spatiale: 1,3, 1, 0,8, 3 nm

... Microscope électronique à balayage environnemental (ESEM) pour l'étude des matériaux à l'état naturel. Microscope électronique à balayage environnemental Quattro Le ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope SEM
microscope SEM
Apreo 2

Résolution spatiale: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Poids: 5 kg
Largeur: 340 mm

... temps passé au microscope est précieux, et il faut éviter de consacrer trop de temps à la maintenance, aux alignements, à la formation ou à l'optimisation de l'image. Microscope électronique ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope numérique
microscope numérique
VE CAM series

Grossissement: 32, 50, 6, 10 unit

Microscope numérique compact Full HD pour une inspection rapide et précise là où vous en avez besoin. Des optiques sur mesure de haute qualité et des fonctionnalités numériques se combinent pour des performances supérieures. ...

microscope numérique
microscope numérique
MAKROLITE 4K

Grossissement: 3 unit - 330 unit

Le microscope numérique Makrolite 4K simplifie vos tâches d’inspection optique, de capture d’images et de mesure grâce à la qualité exceptionnelle de l’image en Ultra Haute Définition. Détails exceptionnels de l’image Makrolite ...

microscope numérique
microscope numérique
EVO CAM II

Grossissement: 0,8 unit - 750 unit

... ressortir tous les détails, et la mise au point manuelle et automatique vous donne des images ultra-nettes. Même les sujets de grande taille qui pourraient poser problèmes pour des microscopes classiques ...

microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SU series

Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4, 3 nm

... du marché - Fonctions automatiques améliorées pour les opérateurs de tout niveau de compétence ■Multiples modes de fonctionnement ■ Fonctions automatiques pour les opérateurs de tout niveau de compétence Algorithmes ...

microscope à rayons X
microscope à rayons X
ZEISS XRADIA Context microCT

... offre des temps d'exposition et de reconstruction des données rapides. Obtenez des données 3D sur des composants électroniques entiers intacts, de grands échantillons de matières premières ou des échantillons biologiques. ...

microscope opto-numérique
microscope opto-numérique
AM7915MZT

Grossissement: 10 unit - 220 unit
Résolution spatiale: 650 nm
Poids: 137 g

... point pour améliorer la profondeur de champ sur des surfaces rugueuses ou irrégulières. A la lecture de l'agrandissement automatique (AMR) intégré, les mesures peuvent être effectuées facilement et rapidement. En raison ...

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Dino-Lite Europe/IDCP BV
microscope opto-numérique
microscope opto-numérique
AM4115ZTW

Grossissement: 5 unit - 50 unit
Poids: 105 g
Longueur: 10,5 cm

... grand champ de vision et une fonction de zoom pour révéler les petits détails. Différents capuchons sont fournis avec le microscope faisant du Dino-Lite Edge le choix parfait pour toute application professionnelle.

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Dino-Lite Europe/IDCP BV
microscope numérique
microscope numérique
AM7115MZT

Grossissement: 20 unit - 220 unit
Résolution spatiale: 650 nm

... lorsque vous travaillez avec des objets brillants ou réfléchissants tels que le métal, le plastique, le verre, les bijoux, l'électronique, etc. Les caractéristiques principales du AM7115MZT sont: • Capteur 5 mégapixel ...

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Dino-Lite Europe/IDCP BV
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SEM4000Pro

Grossissement: 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9 nm - 2,5 nm

CIQTEK SEM4000 est un microscope électronique à balayage à émission de champ thermique analytique équipé d'un canon électronique à émission de champ Schottky longue durée à haute luminosité. La ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SEM2100

Grossissement: 300 000 unit
Résolution spatiale: 4,5, 3,9 nm

... SEM2100 est un microscope électronique à balayage (MEB) à filament de tungstène convivial et accessible, conçu pour les utilisateurs novices. Il se caractérise par un processus d'utilisation simplifié ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope filament de tungstène
microscope filament de tungstène
SEM 3300

Grossissement: 1 unit - 300 000 unit
Résolution spatiale: 2,5 nm - 5 nm
Longueur: 926 mm

... SEM3300 est une nouvelle génération de microscope électronique à balayage à filament de tungstène avec une résolution supérieure à 2,5 nm à 20 kV. La conception spéciale de l'optique électronique ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope électronique
microscope électronique
ECLIPSE L300N series

Grossissement: 50 unit
Poids: 45 kg

La gamme de microscopes pour semi-conducteurs ECLIPSE L300ND, L300N et L200ND, L200NA de Nikon est idéale pour l’inspection des circuits intégrés (CI), des écrans plats, des dispositifs électroniques ...

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Nikon Metrology
microscope optique
microscope optique
ZTX-S series

... semi-conducteurs et les cartes de circuits intégrés dans l'industrie électronique, l'agriculture et l'enseignement de l'industrie électronique et de l'instrumentation ...

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Ningbo Huaguang Precision Instrument Co., Ltd.
microscope optique
microscope optique
Primotech series

Poids: 8,5, 9,5, 10,1, 9,1 kg
Longueur: 467 mm
Largeur: 192 mm

... Votre microscope à matériaux avec lumière réfléchie et transmise et, en option, imagerie sans fil. Primotech est votre solution d'imagerie intelligente avec un rapport prix/performance attractif. Accédez à plusieurs ...

microscope opto-numérique
microscope opto-numérique
HD-Inspektor II

Grossissement: 2 unit - 73 unit
Poids: 5 kg

... : utilisation universelle pour les tâches d'inspection, de réparation et de test inspection de cartes de circuits imprimés combinable avec des tables d'inspection et des platines à billes pour un positionnement ...

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