Microscopes in-situ

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microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
Quattro ESEM

Résolution spatiale: 1,3, 1, 0,8, 3 nm

... sa catégorie pour les capacités d'imagerie in situ, les expériences dynamiques avec d'excellentes capacités analytiques L'ESEM Quattro est une plateforme très flexible pour les expériences dynamiques ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope SEM
microscope SEM
Volumescope 2

Résolution spatiale: 1, 0,8, 0,7 nm
Largeur: 340 mm

... structure-fonction dans les systèmes biologiques et les matériaux mous. Le SEM sériel à face de bloc (SBF-SEM) combine la coupe et l'imagerie in situ de blocs de tissus en plastique dans ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope FIB/SEM
microscope FIB/SEM
Helios 5

Résolution spatiale: 515, 1 030 nm

... balayage). Cette combinaison "TriBeam" permet une imagerie et une analyse à haute résolution avec une capacité d'ablation in situ, offrant des taux d'enlèvement de matière sans précédent pour une caractérisation ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU7000

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,8 nm

... des performances élevées, mais aussi une multitude de fonctionnalités, notamment l'observation de zones étendues, l'analyse in situ, la pression variable, l'imagerie à haute résolution à de faibles tensions ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU5000

Résolution spatiale: 1,2 nm

... experts du jour au lendemain. - La technologie de réglage automatique des axes (auto-calibration) permet de rétablir le microscope dans son "meilleur état" à la demande. - Une chambre à échantillons robuste "extractible" ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope STEM
microscope STEM
HF5000

Grossissement: 20 unit - 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,08, 0,1 nm

... Cold FEG) - Colonne et blocs d'alimentation ultra-stables pour une meilleure performance de l'instrument - Capacité d'imagerie SEM et STEM simultanée avec correction Cs et résolution atomique - Nouvelle platine à entrée ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SEM3200

Grossissement: 300 000 unit
Résolution spatiale: 3, 4, 7 nm
Poids: 480 kg

CIQTEK SEM3200 est un microscope électronique à balayage à filament de tungstène haute performance. Il possède d’excellentes capacités de qualité d’imagerie dans les modes de vide poussé et faible. Il dispose également ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SEM5000Pro

Grossissement: 1 unit - 2 500 000 unit
Résolution spatiale: 0,8 nm - 1 200 nm
Poids: 950 kg

... Le CIQTEK SEM5000Pro est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM, FEG SEM) à haute résolution et riche en fonctionnalités. Conception avancée de la colonne, technologie de tunnel à haute tension ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SEM2100

Grossissement: 300 000 unit
Résolution spatiale: 4,5, 3,9 nm

... Le SEM2100 est un microscope électronique à balayage (MEB) à filament de tungstène convivial et accessible, conçu pour les utilisateurs novices. Il se caractérise par un processus d'utilisation simplifié et respecte ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope numérique
microscope numérique
IM•profile M

Résolution spatiale: 200 nm
Poids: 1 kg

... X-Y-Z-Phi d'une compacité unique pour positionner facilement l'échantillon de sciences de la vie - médical. Il s'agit d'un microscope numérique inverse USB/GigE ultra compact avec condenseur optimisé et LED de lumière ...

microscope polarisant
microscope polarisant
ECLIPSE LV100N POL

Poids: 17 kg
Longueur: 490 mm
Largeur: 251 mm

Les microscopes de polarisation ECLIPSE LV100N POL et Ci-POL de Nikon sont utilisés pour étudier les propriétés biréfringentes des échantillons anisotropes par l’observation des changements de contraste et de couleur ...

microscope à balayage de sonde
microscope à balayage de sonde
TESLA JT SPM

... QPlus®) et différents modes de spectroscopie dont STS, IETS et force spec-troscopy. L'échange de pointes et d'échantillons in situ, y compris quatre contacts électriques sur la plaque d'échantillon, permet ...

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Scienta Omicron
microscope métallographique
microscope métallographique
MOBISCOPE

Grossissement: 100 unit - 500 unit
Longueur: 160 mm

... systèmes de tuyauterie, les centrales électriques, etc. La métallographie in situ permet d'évaluer rapidement un composant sur place. L'utilisation de la métallographie in situ/de ...

microscope Raman
microscope Raman
RamMics M532/785

Résolution spatiale: 532, 785 nm

... grande quantité de matériaux. Grâce à sa conception compacte et à sa portabilité, le RamMics M532/785 assure des résultats in-situ de haute qualité avec des dépenses minimales et s'avère être un outil ...

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