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Microscopes pour grands échantillons
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{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... résolution, mais également le rendement lors du contrôle d'échantillons d'un diamètre de 8 po/200 mm. L'éclairage s'inspire de la toute dernière technologie LED et est entièrement intégré dans le microscope. ...
Leica Microsystems GmbH
Microscope numérique pour l’analyse de défaillance, l’assurance et le contrôle qualité, la recherche et le développement ou encore la médecine légale. L'optique exceptionnelle, la manipulation intuitive et le logiciel ...
Leica Microsystems GmbH
... être simple et fiable. Sa conception robuste intègre un excellent système optique et permet le contrôle, même sur de grands échantillons, avec une lumière en fond clair, oblique ou polarisée . L'éclairage ...
Leica Microsystems GmbH
Grossissement: 20 unit
Longueur: 304 mm
Largeur: 210 mm
Alliant performance et efficacité, le microscope à polarisation universel Axio Lab est dédié pour les applications en géologie, minéralogie et l'exploration des ressources en combustibles fossiles. Ce microscope ...
... rapide des échantillons et d'un processus d'acquisition simplifié. Il offre des temps d'exposition et de reconstruction des données rapides. Obtenez des données 3D sur des composants électroniques entiers intacts, ...
Résolution spatiale: 0,2 µm
Poids: 9 kg
Longueur: 587 mm
... caméras pour microscope continuent de fournir une technologie de pointe et des performances fiables pour répondre à la large gamme d’applications industrielles. Choisissez parmi une grande ...
Résolution spatiale: 1 µm
Les systèmes de microscope MX63 et MX63L sont optimisés pour effectuer des inspections de grande qualité de wafers pouvant atteindre 300 mm, d'écrans plats, de cartes de circuits imprimés et d'autres ...
... . Limites de l'échantillon - Aucune Le contrôle de la qualité et des processus nécessite souvent l'analyse de pièces ou de composants de grande taille qui ne peuvent être divisés en segments plus petits. ...
... Les microscopes inversés sont compacts, durables et utilisés pour des besoins de fort grossissement. Ils sont idéaux pour l'analyse d'échantillons de montage avec des surfaces d'échantillon ...
Grossissement: 1 unit - 100 unit
Poids: 26 kg
Longueur: 295 mm
... La conception universelle du microscope permet de combiner des techniques de contraste optique complémentaires sur un même statif de microscope grâce à un système de composants modulaires. Nikon ECLIPSE ...
Nikon Metrology
... entière de 300 mm, sans avoir besoin de déplacer l'échantillon. Principales caractéristiques techniques : scanner 2D guidé par la flexion avec une plage de balayage de 100 µm x 100 µm * Scanner Z à grande ...
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