Microscopes pour grands échantillons

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microscope d'inspection
microscope d'inspection
DM8000 M

... résolution, mais également le rendement lors du contrôle d'échantillons d'un diamètre de 8 po/200 mm. L'éclairage s'inspire de la toute dernière technologie LED et est entièrement intégré dans le microscope. ...

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Leica Microsystems GmbH
microscope opto-numérique
microscope opto-numérique
DVM6

Microscope numérique pour l’analyse de défaillance, l’assurance et le contrôle qualité, la recherche et le développement ou encore la médecine légale. L'optique exceptionnelle, la manipulation intuitive et le logiciel ...

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Leica Microsystems GmbH
microscope pour l'analyse de matériau
microscope pour l'analyse de matériau
DM1750 M

... être simple et fiable. Sa conception robuste intègre un excellent système optique et permet le contrôle, même sur de grands échantillons, avec une lumière en fond clair, oblique ou polarisée . L'éclairage ...

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Leica Microsystems GmbH
microscope optique
microscope optique
ZEISS Axiolab 5

Grossissement: 20 unit
Longueur: 304 mm
Largeur: 210 mm

Alliant performance et efficacité, le microscope à polarisation universel Axio Lab est dédié pour les applications en géologie, minéralogie et l'exploration des ressources en combustibles fossiles. Ce microscope ...

microscope à rayons X
microscope à rayons X
ZEISS XRADIA Context microCT

... rapide des échantillons et d'un processus d'acquisition simplifié. Il offre des temps d'exposition et de reconstruction des données rapides. Obtenez des données 3D sur des composants électroniques entiers intacts, ...

microscope modulaire
microscope modulaire
BXFM

Résolution spatiale: 0,2 µm
Poids: 9 kg
Longueur: 587 mm

... caméras pour microscope continuent de fournir une technologie de pointe et des performances fiables pour répondre à la large gamme d’applications industrielles. Choisissez parmi une grande ...

microscope optique
microscope optique
MX63 series

Résolution spatiale: 1 µm

Les systèmes de microscope MX63 et MX63L sont optimisés pour effectuer des inspections de grande qualité de wafers pouvant atteindre 300 mm, d'écrans plats, de cartes de circuits imprimés et d'autres ...

microscope AFM
microscope AFM
Nanite

... . Limites de l'échantillon - Aucune Le contrôle de la qualité et des processus nécessite souvent l'analyse de pièces ou de composants de grande taille qui ne peuvent être divisés en segments plus petits. ...

microscope métallographique
microscope métallographique
DS series

... Les microscopes inversés sont compacts, durables et utilisés pour des besoins de fort grossissement. Ils sont idéaux pour l'analyse d'échantillons de montage avec des surfaces d'échantillon ...

microscope métallurgique
microscope métallurgique
ECLIPSE MA200

Grossissement: 1 unit - 100 unit
Poids: 26 kg
Longueur: 295 mm

... La conception universelle du microscope permet de combiner des techniques de contraste optique complémentaires sur un même statif de microscope grâce à un système de composants modulaires. Nikon ECLIPSE ...

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Nikon Metrology
microscope AFM
microscope AFM
NX20

... entière de 300 mm, sans avoir besoin de déplacer l'échantillon. Principales caractéristiques techniques : scanner 2D guidé par la flexion avec une plage de balayage de 100 µm x 100 µm * Scanner Z à grande ...

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