- Métrologie - Laboratoire >
- Équipements de Laboratoire >
- Microscope filament de tungstène
Microscopes filament de tungstène
Entrez en contact avec vos nouveaux clients en un seul endroit, toute l'année
Devenir exposant{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}

Grossissement: 300 000 unit
Résolution spatiale: 4, 7, 3 nm
Poids: 480 kg
CIQTEK SEM3200 est un microscope électronique à balayage à filament de tungstène haute performance. Il possède d’excellentes capacités de qualité d’imagerie dans les modes de vide poussé ...
CIQTEK Co., Ltd.

Grossissement: 300 000 unit
Résolution spatiale: 4,5, 3,9 nm
... Spécifications du microscope MEB CIQTEK SEM2100 Optique électronique Résolution : 3.9 nm à 20 kV, SE 4.5 nm à 20 kV, BSE Tension d'accélération : 0,5 kV ~ 30 kV Grossissement (Polaroid) : 1 x ~ 300 000 ...
CIQTEK Co., Ltd.

Grossissement: 1 unit - 2 500 000 unit
Résolution spatiale: 0,6 nm - 1 nm
Poids: 400 kg
CIQTEK SEM5000X est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) ultra haute résolution avec une résolution révolutionnaire de 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV. Bénéficiant du processus d'ingénierie ...
CIQTEK Co., Ltd.

Grossissement: 1 unit - 300 000 unit
Résolution spatiale: 2,5 nm - 5 nm
Longueur: 926 mm
... électromagnétique. En appliquant ces technologies au microscope à filament de tungstène, la limite de résolution de longue date de ce type de microscope est dépassée, ...
CIQTEK Co., Ltd.

... Le microscope électronique à balayage (MEB) de 4ème génération de TESCAN VEGA avec source d'électrons à filament de tungstène combine l'imagerie MEB et l'analyse de la composition des ...
Entrez en contact avec vos nouveaux clients en un seul endroit, toute l'année
Devenir exposantVos suggestions d'amélioration :
les meilleurs fournisseurs
Abonnez-vous à notre newsletter
Tous les 15 jours, recevez les nouveautés de cet univers
Merci de vous référer à notre politique de confidentialité pour savoir comment DirectIndustry traite vos données personnelles
- Liste des marques
- Compte fabricant
- Compte acheteur
- Nos services
- Inscription newsletter
- À propos de VirtualExpo Group
Veuillez préciser :
Aidez-nous à nous améliorer :
restant