Microscopes d'électrons secondaires

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microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
Phenom Pharos G2

Grossissement: 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 2, 10, 3 nm

... Microscope électronique à balayage à canon à émission de champ de table pour une imagerie de haute qualité dans toutes les disciplines. Microscope électronique à balayage à canon à émission de champ Le ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope SEM
microscope SEM
Phenom XL G2

Grossissement: 160 unit - 200 000 unit
Résolution spatiale: 0 µm - 10 µm

... Applications du microscope électronique à balayage de bureau Phenom XL G2 Le microscope électronique à balayage (MEB) de bureau Thermo Scientific Phenom XL G2 de nouvelle génération automatise votre processus ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope SEM
microscope SEM
Phenom Pro G6

Grossissement: 160 unit - 350 000 unit
Résolution spatiale: 8, 6 nm

... Desktop SEM pour une analyse SEM robuste et sans effort, élargissant votre capacité de recherche. Phenom Pro Desktop SEM La sixième génération de Thermo Scientific Phenom Pro G6 Desktop ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope SEM
microscope SEM
Phenom ProX G6

Grossissement: 160 unit - 350 000 unit
Résolution spatiale: 8, 6 nm

... élémentaire et MEB robuste, sans effort et polyvalente. Phenom Desktop SEM avec diffraction des rayons X par dispersion d'énergie La sixième génération de Thermo Scientific Phenom ProX G6 Desktop SEM ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope SEM
microscope SEM
Phenom Pure G6

Grossissement: 160 unit - 175 000 unit
Résolution spatiale: 0 nm - 15 nm

... SEM de bureau économique et facile à utiliser, avec des fonctions d'automatisation fiables. Le microscope électronique à balayage (MEB) Thermo Scientific Phenom Pure est un outil idéal pour passer de ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope pour batterie
microscope pour batterie
Phenom ParticleX

Grossissement: 160 unit - 200 000 unit
Résolution spatiale: 0 nm - 10 nm

... Microscope électronique à balayage de bureau pour la production et la recherche sur les batteries. Analyse des matériaux de batterie avancés Le microscope électronique à balayage de bureau Phenom est ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope SEM
microscope SEM
Phenom ParticleX TC

Grossissement: 160 unit - 200 000 unit
Résolution spatiale: 0 nm - 10 nm

... 4407 sont disponibles. Détecteur d'électrons secondaires Un détecteur d'électrons secondaires (SED) est disponible en option sur le MEB de bureau Phenom ParticleX TC ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope SEM
microscope SEM
Phenom ParticleX AM

Grossissement: 160 unit - 200 000 unit
Résolution spatiale: 10 nm

... individuelles et les particules étrangères Caractéristiques du Phenom ParticleX AM Desktop SEM Analyse des particules au MEB Le Phenom ParticleX AM Desktop SEM est doté d'une chambre avec une platine ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
Prisma E SEM

Résolution spatiale: 7, 3 nm
Poids: 5 kg

... Microscope électronique à balayage pour la recherche et le développement industriels avec capacité de microscope électronique à balayage environnemental. Microscope électronique à balayage ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope électronique à balayage avec sonde ionique focalisée
microscope électronique à balayage avec sonde ionique focalisée
Scios 2

Résolution spatiale: 1,4, 0,7, 1,2 nm
Poids: 5 kg

... caractérisation et l'analyse 3D avancée à haute résolution à l'échelle nanométrique. Imagerie par électrons rétrodiffusés et électrons secondaires La colonne d'électrons ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope électronique à balayage en transmission
microscope électronique à balayage en transmission
SU9000II

Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... La source d'émission en champ froid est idéale pour l'imagerie à haute résolution, avec une taille de source et une répartition d'énergie réduites. La technologie innovante du canon CFE contribue à l'ultime FE-SEM avec une luminosité ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU8700

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,8 nm

... Le SU8700 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission de champ Schottky à ultra-haute résolution dans la gamme Hitachi EM de longue date. Cette plateforme FE-SEM révolutionnaire intègre ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU7000

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,8 nm

... d'optique électronique de conception nouvelle permet une acquisition simultanée efficace de plusieurs signaux d'électrons secondaires et d'électrons rétrodiffusés. Imagerie multicanaux Le ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU5000

Résolution spatiale: 1,2 nm

... experts du jour au lendemain. - La technologie de réglage automatique des axes (auto-calibration) permet de rétablir le microscope dans son "meilleur état" à la demande. - Une chambre à échantillons robuste "extractible" ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SU series

Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4, 3 nm

... Performance et puissance dans une plate-forme flexible Les microscopes électroniques à balayage SU3800/SU3900 d'Hitachi High-Tech sont à la fois opérationnels et évolutifs. L'opérateur peut automatiser de nombreuses opérations ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
FlexSEM 1000 II

Grossissement: 6 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 4, 5, 15 nm

... MEB fonctionne à l'énergie propre, ce qui en fait un outil d'analyse économique, sans compromis sur les performances. Le microscope électronique à balayage FlexSEM 1000 II est doté d'un système optique électronique et ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope SEM
microscope SEM
TM4000 series

Grossissement: 10 unit - 25 000 054 unit
Poids: 54 kg
Longueur: 614, 617 mm

... caractérise par des innovations et des technologies de pointe qui redéfinissent les capacités d'un microscope de table. Cette nouvelle génération de microscopes de table Hitachi de longue date (TM) intègre ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope STEM
microscope STEM
HF5000

Grossissement: 20 unit - 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,08, 0,1 nm

... entièrement automatisée - Canon à électrons froids FE à haute luminosité et haute stabilité (Cold FEG) - Colonne et blocs d'alimentation ultra-stables pour une meilleure performance de l'instrument - Capacité d'imagerie ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SEM5000Pro

Grossissement: 1 unit - 2 500 000 unit
Résolution spatiale: 0,8 nm - 1 200 nm
Poids: 950 kg

... Le CIQTEK SEM5000Pro est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM, FEG SEM) à haute résolution et riche en fonctionnalités. Conception avancée de la colonne, technologie de tunnel à haute tension ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SEM4000Pro

Grossissement: 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9 nm - 2,5 nm

... canon à électrons à émission de champ Schottky haute luminosité et longue durée de vie •Haute résolution, meilleure que 1 nm à 30 kV •Conception de lentille magnétique à trois niveaux, large plage de réglage du faisceau •* ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SEM2100

Grossissement: 300 000 unit
Résolution spatiale: 4,5, 3,9 nm

... Le SEM2100 est un microscope électronique à balayage (MEB) à filament de tungstène convivial et accessible, conçu pour les utilisateurs novices. Il se caractérise par un processus d'utilisation simplifié et respecte ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SEM5000X

Grossissement: 1 unit - 2 500 000 unit
Résolution spatiale: 0,6 nm - 1 nm
Poids: 400 kg

CIQTEK SEM5000X est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) ultra haute résolution avec une résolution révolutionnaire de 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV. Bénéficiant du processus d'ingénierie ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope électronique à balayage avec sonde ionique focalisée
microscope électronique à balayage avec sonde ionique focalisée
DB550

Résolution spatiale: 3, 0,9, 1,6 nm

CIQTEK DB500 est un microscope électronique à balayage à émission de champ avec une colonne à faisceau d'ions focalisé pour l'analyse nanométrique et la préparation d'échantillons, qui est appliqué avec la technologie ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope filament de tungstène
microscope filament de tungstène
SEM 3300

Grossissement: 1 unit - 300 000 unit
Résolution spatiale: 2,5 nm - 5 nm
Longueur: 926 mm

... tension, compatible avec l'imagerie d'échantillons magnétiques 7.Technologie de détection d'électrons en colonne:Améliore l'efficacité de capture des électrons du signal, permet d'obtenir un rapport signal/bruit ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
HEM6000

Grossissement: 66 unit - 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 1,3 nm
Longueur: 1 716 mm

... Microscope électronique à balayage à grande vitesse pour l'imagerie transversale d'échantillons de grand volume Le CIQTEK HEM6000 utilise des technologies telles que le canon à électrons à grand faisceau ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SEM4000X

Grossissement: 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 1,2, 1,9 nm

... basse tension. Le microscope utilise la technologie multidétecteur, avec un détecteur d'électrons en colonne (UD) capable de détecter les signaux SE et BSE tout en offrant des performances de haute résolution. Le ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope à force atomique
microscope à force atomique
Diamond III/IV

CIQTEK QDAFM Diamond III/IV est un microscope central à balayage NV basé sur le centre de vacance d'azote diamant (centre NV) et la technologie d'imagerie magnétique à balayage AFM. Les propriétés magnétiques de l'échantillon ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
JSM-IT710HR

... Une visibilité claire favorise les nouvelles découvertes De nos jours, non seulement la résolution et la performance analytique à l'échelle du nanomètre, mais aussi la rapidité d'acquisition des données sont considérées comme importantes. ...

microscope FIB/SEM
microscope FIB/SEM
AMBER X

... Une combinaison unique de FIB plasma et de MEB UHR sans champ pour la caractérisation des matériaux à plusieurs échelles - Traitement FIB à haut débit et grande surface jusqu'à 1 mm - Préparation de micro-échantillons sans Ga - Imagerie ...

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