Microscopes d'électrons secondaires

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microscope électronique à balayage en transmission
microscope électronique à balayage en transmission
SU9000 II

Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... à proximité de l'échantillon pour une analyse élémentaire à haute résolution en mode SEM et STEM. Caractéristiques du produit : - Combinaison SEM-STEM avec signal SEM filtré ExB et détection du signal ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU8700

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,6 nm

... Équipé d'un sas d'échantillonnage de 150 mm en standard, le SU8700 offre un débit d'échantillonnage élevé, même pour les échantillons de grande taille, et un environnement de chambre d'échantillonnage constamment propre pour une imagerie ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU7000

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,8 nm

... Le SU7000 est idéal pour les échantillons lourds ou de grande taille et pour l'intégration d'une large gamme d'accessoires. Ces accessoires comprennent des détecteurs analytiques ou des accessoires de scène pour la manipulation in situ ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope SEM
microscope SEM
Phenom XL G2

Grossissement: 160 unit - 200 000 unit
Résolution spatiale: 0 µm - 10 µm

... Applications du microscope électronique à balayage de bureau Phenom XL G2 Le microscope électronique à balayage (MEB) de bureau Thermo Scientific Phenom XL G2 de nouvelle génération automatise votre processus ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope SEM
microscope SEM
Phenom Pro G6

Grossissement: 160 unit - 350 000 unit
Résolution spatiale: 8, 6 nm

... Desktop SEM pour une analyse SEM robuste et sans effort, élargissant votre capacité de recherche. Phenom Pro Desktop SEM La sixième génération de Thermo Scientific Phenom Pro G6 Desktop ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope SEM
microscope SEM
Phenom ProX G6

Grossissement: 160 unit - 350 000 unit
Résolution spatiale: 8, 6 nm

... élémentaire et MEB robuste, sans effort et polyvalente. Phenom Desktop SEM avec diffraction des rayons X par dispersion d'énergie La sixième génération de Thermo Scientific Phenom ProX G6 Desktop SEM ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SEM5000Pro

Grossissement: 1 unit - 2 500 000 unit
Résolution spatiale: 0,8 nm - 1,3 nm
Poids: 950 kg

... Microscope FESEM CIQTEK SEM5000Pro Spécifications -Optique électronique Résolution:0.8 nm @ 15 kV, SE/1.2 nm @ 1.0 kV, SE Tension d'accélération:0.02kV ~ 30 kV Grossissement (Polaroid):1 ~ 2,500,000 x Type de canon à ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope à balayage de sonde
microscope à balayage de sonde
Scanning NV Microscope (SNVM)

CIQTEK QDAFM Diamond III/IV est un microscope central à balayage NV basé sur le centre de vacance d'azote diamant (centre NV) et la technologie d'imagerie magnétique à balayage AFM. Les propriétés magnétiques de l'échantillon ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SEM4000Pro

Grossissement: 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9 nm - 2,5 nm

... canon à électrons à émission de champ Schottky haute luminosité et longue durée de vie •Haute résolution, meilleure que 1 nm à 30 kV •Conception de lentille magnétique à trois niveaux, large plage de réglage du faisceau •* ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
JSM-IT710HR

... Une visibilité claire favorise les nouvelles découvertes De nos jours, non seulement la résolution et la performance analytique à l'échelle du nanomètre, mais aussi la rapidité d'acquisition des données sont considérées comme importantes. ...

microscope FIB/SEM
microscope FIB/SEM
AMBER X

... Une combinaison unique de FIB plasma et de MEB UHR sans champ pour la caractérisation des matériaux à plusieurs échelles - Traitement FIB à haut débit et grande surface jusqu'à 1 mm - Préparation de micro-échantillons sans Ga - Imagerie ...

microscope AFM-MEB
microscope AFM-MEB
FusionScope®

Grossissement: 25 unit - 200 000 unit
Poids: 330 kg
Longueur: 835 mm

... Le FusionScope est un microscope corrélatif AFM/SEM qui a été conçu dès le départ pour vous permettre de tirer parti de la combinaison de ces deux méthodes d'analyse. Pour la plupart des analyses, il est souvent souhaitable ...

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