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Grossissement: 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 2, 10, 3 nm
... Microscope électronique à balayage à canon à émission de champ de table pour une imagerie de haute qualité dans toutes les disciplines. Microscope électronique à balayage ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Résolution spatiale: 0,3 nm - 1,5 nm
Poids: 500 g
... Préparation d'échantillons pour l'imagerie TEM et STEM ou la tomographie par sonde atomique. Facile à utiliser grâce à une automatisation avancée. Capacité de caractérisation 3D de la subsurface de haute ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Grossissement: 160 unit - 200 000 unit
Résolution spatiale: 0 nm - 10 000 nm
... Desktop SEM permettant une fabrication d'acier de haute qualité grâce à l'analyse des défaillances et à l'amélioration des processus. Les métallurgistes et les chercheurs en sidérurgie ont besoin de données de microscopie ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... d'échantillonnage à entrée latérale ultra stable, similaire aux systèmes TEM haut de gamme, et intègre un amortissement optimisé des vibrations ainsi qu'une armoire fermée pour protéger l'optique électronique ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,8 nm
... Le SU8700 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission de champ Schottky à ultra-haute résolution dans la gamme Hitachi EM de longue date. Cette plateforme FE-SEM révolutionnaire ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,7, 0,6 nm
... Le SU8600 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission en champ froid à ultra-haute résolution dans la gamme Hitachi EM de longue date. Cette plateforme CFE-SEM révolutionnaire ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... MICROSCOPE NUMÉRIQUE POUR MESURES AUTOMATIQUES BRINELL ISO 6506 - ASTM E10 Microscope électronique pour la mesure automatique de l'indentation Brinell ...
Grossissement: 300 000 unit
Résolution spatiale: 3, 4, 8 nm
Poids: 480 kg
CIQTEK SEM3200 est un microscope électronique à balayage à filament de tungstène haute performance. Il possède d’excellentes capacités de qualité d’imagerie dans les modes de vide poussé et faible. Il ...
CIQTEK Co., Ltd.
Grossissement: 1 unit - 2 500 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 1,2 nm
Poids: 950 kg
... Le CIQTEK SEM5000Pro est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM, FEG SEM) à haute résolution et riche en fonctionnalités. Conception avancée de la colonne, technologie de tunnel ...
CIQTEK Co., Ltd.
Grossissement: 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 2,5, 0,9 nm
CIQTEK SEM4000 est un microscope électronique à balayage à émission de champ thermique analytique équipé d'un canon électronique à émission de champ Schottky longue durée à haute luminosité. La ...
CIQTEK Co., Ltd.
... intègre les dernières technologies JEOL pour la cryo-microscopie : Cold FEG, filtre en énergie Omega, système d’échange automatique des échantillons à température cryogénique… Le système permet l’échange d’un ou de ...
Jeol
Grossissement: 50 unit
Poids: 45 kg
La gamme de microscopes pour semi-conducteurs ECLIPSE L300ND, L300N et L200ND, L200NA de Nikon est idéale pour l’inspection des circuits intégrés (CI), des écrans plats, des dispositifs électroniques ...
Résolution spatiale: 20 nm
... temporelle et l'imagerie dans l'espace K ne sont que quelques exemples de la recherche active du PEEM. Contrairement au microscope électronique à balayage (MEB), le MEBE reproduit directement en temps ...
Grossissement: 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 3 nm
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