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Résolution spatiale: 0,7, 1,2 nm
... difficultés à une résolution sub-nanométrique. Ces FE-SEM (microscope électronique à balayage à émission de champ) excellent tant dans l'imagerie que dans l'analyse. Des innovations dans l'optique électronique ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... résultats rapides et un rapport qualité-prix supérieur. De plus, les fonctions d'automatisation pour un fonctionnement en automatique sans surveillance vous permettent de gagner un temps précieux. L’EVO est facile ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Combinez les performances d'imagerie et d'analyse d'un microscope électronique à balayage à émission de champ haute résolution (FE-SEM) avec la capacité d'un faisceau d'ions focalisé (FIB) de nouvelle ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Grossissement: 160 unit - 200 000 unit
Résolution spatiale: 0 nm - 10 000 nm
... Desktop SEM permettant une fabrication d'acier de haute qualité grâce à l'analyse des défaillances et à l'amélioration des processus. Les métallurgistes et les chercheurs en sidérurgie ont besoin de données de microscopie ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Grossissement: 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 2, 10, 3 nm
... Microscope électronique à balayage à canon à émission de champ de table pour une imagerie de haute qualité dans toutes les disciplines. Microscope électronique à balayage ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Résolution spatiale: 0,7, 1, 0,6 nm
... Caractérisation par microscopie électronique à balayage de nanomatériaux avec une résolution inférieure au nanomètre et un contraste élevé entre les matériaux. Microscope électronique ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... résolution en mode SEM et STEM. Caractéristiques du produit : - Combinaison SEM-STEM avec signal SEM filtré ExB et détection du signal de transmission en fonction de l'angle de diffusion - L'émetteur ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,8 nm
... l'imagerie à haute résolution avec tous les détecteurs sont possibles à une distance de travail de 6 mm - Des fonctions automatiques fiables telles que l'adaptation aux conditions optiques définies par l'utilisateur ou ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,7, 0,6 nm
... Ces fonctions comprennent le réglage des conditions d'observation définies par l'utilisateur, l'excellente mise au point automatique 2D et le stigmateur automatique, etc. - La chambre d'échange d'échantillons permet de ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... MICROSCOPE NUMÉRIQUE POUR MESURES AUTOMATIQUES BRINELL ISO 6506 - ASTM E10 Microscope électronique pour la mesure automatique de l'indentation Brinell ...
Grossissement: 300 000 unit
Résolution spatiale: 3, 4, 7 nm
Poids: 480 kg
CIQTEK SEM3200 est un microscope électronique à balayage à filament de tungstène haute performance. Il possède d’excellentes capacités de qualité d’imagerie dans les modes de vide poussé et faible. Il ...
CIQTEK Co., Ltd.
Grossissement: 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9 nm - 2,5 nm
CIQTEK SEM4000 est un microscope électronique à balayage à émission de champ thermique analytique équipé d'un canon électronique à émission de champ Schottky longue durée à haute luminosité. La ...
CIQTEK Co., Ltd.
Grossissement: 300 000 unit
Résolution spatiale: 4,5, 3,9 nm
... Le SEM2100 est un microscope électronique à balayage (MEB) à filament de tungstène convivial et accessible, conçu pour les utilisateurs novices. Il se caractérise par un processus d'utilisation simplifié ...
CIQTEK Co., Ltd.
... intègre les dernières technologies JEOL pour la cryo-microscopie : Cold FEG, filtre en énergie Omega, système d’échange automatique des échantillons à température cryogénique… Le système permet l’échange d’un ou de ...
Jeol
Résolution spatiale: 20 nm
... temporelle et l'imagerie dans l'espace K ne sont que quelques exemples de la recherche active du PEEM. Contrairement au microscope électronique à balayage (MEB), le MEBE reproduit directement en temps ...
Grossissement: 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 3 nm
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